2014-11-18 １２月１８日講演会開催のご案内
Post date: Nov 18, 2014 7:53:31 AM
「第2回システムアシュランス研究会・第2回DEOS標準化部会講演会合同開催」のご案内
主 催：神奈川大学総合理学研究所
社）ディペンダビリティ技術推進協会（標準化部会）
日 時：2014年12月18日(木) 15:30~18:00
会 場：ＫＵポートスクエア（横浜みなとみらい）
定 員：50名(先着順)
参加費：無料
プログラム：
15:30～16:20 「適合性評価の国際的な仕組み」（三井清人/JQA日本品質保証機構）
16:30～17:10 「アシュランスケース事例報告」（平井誠/神奈川大学）
17:10～18:00 「IEC TC56 Dependability 活動報告」木下佳樹/神奈川大学）
18:30～ 懇親会 （場所：会場周辺、費用：4,000円程度）
お申込み：「ここ」から必要事項を送信ください。
（アクセスできない場合、下記問合せ先までメールでご所属機関・ご所属部署、懇親会参加の可否をご連絡ください。）
お問合せ：deos-standard@progsci.info.kanagawa-u.ac.jp
講演概要：
講演１「適合性評価の国際的な仕組み」 スライド１ スライド２
講師：三井 清人／JQA日本品質保証機構 特別参与
適合性評価（conformity assessment）という言葉は、試験・検査・認証・認定などの総称として、1980年代から貿易交渉や国際規格の分野で使われるようになった。現在では、適合性評価の仕組みと活動内容が国際規格ISO/IEC 17000シリーズの規格によって規定され、その利用が世界的に進んだ結果、様々な分野で適合性評価結果の相互承認が行われている。本講演では、その仕組みの全体像を概観した上で、システムの認証に関する国際規格の概要を説明する。
講演２「アシュランスケース事例報告」 スライド
講師：平井 誠／神奈川大学 総合理学研究所 客員研究員
ITシステムを対象としたアシュランスケースの事例として、学内でのファイル共有サービスの例を紹介します。これは、関係者間で合意を維持し、開発と運用が、妥当に継続されていることを確認するものです。
講演３「IEC TC56 Dependability 活動報告」 スライド 報告書
講師：木下 佳樹／神奈川大学 理学部 教授
IEC (International Electrotechnical Commission) TC (Technical Committee) 56 Dependabilityは、ディペンダビリティに関する国際標準を所掌している。同TCで制定を進めている IEC 62853 Ed.1 Open Systems Dependability の内容について、最新草稿をもとに解説する。また、本年(2014)10月にプラハにて開催された全体集会 (plenary meeting)について報告する。